講座名稱(chēng)：“芯”光研途 | Compilation Challenges in Multi-FPGA Systems

講座人：Richard Y. Sun

講座時(shí)間：4月19日16:00

地點(diǎn)：北校區(qū)東大樓220報(bào)告廳

講座人介紹：

Richard Y. Sun，西北大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)碩士、伊利諾伊大學(xué)厄巴納-香檳分校計(jì)算機(jī)科學(xué)博士，西安電子科技大學(xué)兼職教授。于2021年加入上海思爾芯技術(shù)股份有限公司，并擔(dān)任首席技術(shù)官。在加入思爾芯之前，曾負(fù)責(zé)監(jiān)督新思科技公司的Zebu仿真后端工具的開(kāi)發(fā)和支持；還曾領(lǐng)導(dǎo)萊迪思半導(dǎo)體、雅格羅技、賽靈思、Axis Systems和阿爾特拉半導(dǎo)體等公司的FPGA軟件開(kāi)發(fā)。Richard Y. Sun博士是一位杰出的FPGA設(shè)計(jì)和編譯的架構(gòu)師。超過(guò)27年深耕于FPGA物理實(shí)現(xiàn)的各種設(shè)計(jì)算法和開(kāi)發(fā)軟件工具，主要包括劃分、布圖規(guī)劃、布局布線(xiàn)以及引腳分配等方向。在各種知名期刊和會(huì)議記錄中發(fā)表了18篇技術(shù)論文，并持有9項(xiàng)美國(guó)專(zhuān)利。

講座內(nèi)容：

功能驗(yàn)證是電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）中極為重要的方面。傳統(tǒng)的基于寄存器傳輸級(jí)別的邏輯仿真一直是主流的驗(yàn)證方法，形式驗(yàn)證和各種靜態(tài)分析檢查器已經(jīng)被用來(lái)補(bǔ)充邏輯仿真的特定角落。然而，隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模的指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，這些方法已無(wú)法滿(mǎn)足需求。近年來(lái)，由于快速原型和邏輯仿真的性能和可擴(kuò)展性?xún)?yōu)勢(shì)，這些方法在功能驗(yàn)證中變得越來(lái)越受歡迎。被測(cè)設(shè)計(jì)將被映射到多個(gè)FPGA上，這種方式的運(yùn)行速度比純軟件解決的更快。本次演講將重點(diǎn)關(guān)注多FPGA的邏輯驗(yàn)證的設(shè)計(jì)編譯，并提出了該領(lǐng)域中學(xué)術(shù)和工業(yè)界遇到的各種挑戰(zhàn)性問(wèn)題。

主辦單位：微電子學(xué)院